出展者詳細
| 小間番号 | J-04 |
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| 出展者名 | 株式会社ASICON / Microworks GmbH
https://www.asicon-tokyo.com/ |
| 住所 |
〒810-0024 福岡県福岡市中央区桜坂1-15-20-602 |
| asicon-tokyo@asicon-tokyo.com | |
| みどころ | X線タルボ・ロー干渉計: 透過，位相，小角散乱を非破壊で撮像 |
| 製品情報 |
非破壊検査向け: X線タルボ・ロー干渉計キット Talint-EDU 
■ X線透過像が撮像できる環境に本キットを組み込むことで，X線タルボ・ロー干渉計を導入することができます。微分位相像や小角散乱像を新たに撮像できるようになり，透過像では確認できない生体軟組織，高分子材料の微細な密度差や亀裂を，可視化できるようになります。■ キットは，専用のホルダに入ったX線回折格子(吸収格子2枚，位相格子1枚)とステージ，ステッピングモータからなるシンプルな構成です。 ■ サンプルの撮像や，カスタマイズ化の相談も承っています。
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